Sursa ionica confectionata din material inert cu doua filament: EI (CI, DIP – optional): Mod scanare: Complet, Segment, Mod ion selectat (Selected Ions)
Sensitivitate extrem de inalta: Domeniu de masa: 1–1200 amu: Rezolutie: 0.7 amu
Sistem de detectie lateral cu dynoda de 10 kV si multiplicator
Moduri de operare: Scanare, SIM, Scanare si SIM simultan
Moduri de ajustare: Automatic si Manual
Test de neetansietati integrat, test aer/apa
Intarziere programata pentru prelungirea vietii filamentelor
Fereastra de sticla pentru observarea filamentelor
Energie electroni impact: Adjustabil de la 0 eV la 240 eV